VNA測定装置
E2V6151（2プローブ）
E3V6151（3プローブ）
E4V6151（4プローブ）
VNA（ベクトル・ネットワーク・アナライザ）を搭載可能。自動で高周波特性を測定するシステムです。Sパラメータの測定などを行うことができ、5G向けのアプリケーションに使用するデバイスおよび基板の特性評価も可能です。また、データセンター用高速伝送プリント基板の伝送損失測定や、バックドリルの不具合発見など様々な用途に対応しています。プローブが180°回転し、プローブ同士の接近が可能で、アライメントカメラでのプロ―ビング箇所の直視、各種VNA測定器・TDR測定器と接続も可能です。また、4プローブ仕様では基板の表裏も測定することができます。

フォームファクター社のACPシリーズなどのプローブを各アームに1個装備することで、トレースの両端にコンタクトすることができます。

プローブ同士の接近を可能とした回転機構を備えた高周波プローブユニットは、様々なパッド配置での検査を可能にします。高周波プローブは、フォームファクター社のACPシリーズをはじめ、様々な高周波プローブの取付が可能です。