VNA-Mess-System
S2V54 (2 axis)
S3V54 (3 axis)
S4V54 (4 axis)
Die Integration einer VNA (Vektor-Netzwerk-Analyzer) ist ebenfalls möglich. Dies ist ein System zur automatischen Messung von Hochfrequenzeigenschaften. Es ermöglicht die Messung von S-Parametern und die Bewertung von Eigenschaften von Bauteilen und Leiterplatten für 5G-Anwendungen. Zudem ist es geeignet für die Messung der Übertragungsverluste von Hochgeschwindigkeits-Übertragungs-PCBs für Rechenzentren sowie die Erkennung von Fehlern bei Backdrills und vielen weiteren Anwendungen. Die Probe kann um 180° gedreht werden und auch eine Annäherung der Proben ist möglich. Mit der Kontaktüberprüfungskamera kann der Messbereich direkt betrachtet werden und auch eine Verbindung mit verschiedenen VNA- und TDR-Messgeräten ist möglich. Bei der 4-Probe-Spezifikation können die Vorder- und Rückseite der Leiterplatte gemessen werden.

Durch die Verwendung von Testköpfen, wie beispielsweise der ACP-Serie von FormFactor, ist es möglich, sowohl den Anfangs- als auch den Endpunkt der Leiterplatte zu kontaktieren.

Die Hochfrequenzprobeeinheit ist mit einem Drehmechanismus ausgestattet, welcher es erlaubt, eng nebeneinander liegende Pads in verschiedensten Anordnungen zu testen. Eine Vielzahl anderer Hochfrequenzprobes, wie die ACP Serie von Form Factor (ehemals Cascade Microtech), werden ebenfalls unterstützt.