Automatisiertes einseitiges TDR-Messsystem
H1C66 (Koaxial-Probe-Spezifikation, 1 axis)
H2C45 (Koaxial-Probe-Spezifikation, 2 axis)
Einzel- und differenzelle-Impedanzmessungen sind möglich. Ein einzigartiger Rotationskopf und Ionisator gehören zur Standardausstattung.
* Es sind auch größere Größen mit einer maximalen Prüfbereich von 910 × 650 mm erhältlich.

Automatisiertes einseitiges TDR-Messsystem
H1P66 (Adjustable Pitch Probe Model, 1 axis)
H2P45 (Adjustable Pitch Probe Model, 2 axis)
Einzel- und differenzelle-Impedanzmessungen sind möglich. Ein einzigartiger Rotationskopf und Ionisator gehören zur Standardausstattung. Die verstellbare Pitch-Probe-Spezifikation bietet eine Einstellmechanik (optional), die eine automatische Pitch-Anpassung ermöglicht.
* Es sind auch größere Größen mit einer maximalen Prüfbereich von 910 × 650 mm erhältlich.

In der Vergangenheit musste die an der Spitze eines einseitig geerdeten Messtasters angebrachte Erdungskappe vom Bediener durch eine korrekte Erdungskappe entsprechend der Messmusterteilung ersetzt werden. Mit dem Erdungskappenwechsler fährt die Tastkopfeinheit jedoch zur Austauschposition des Erdungskappenwechslers und bringt die Erdungskappe automatisch an bzw. löst sie ab. Im Wechsler können bis zu fünf Arten von Erdungskappen eingestellt werden. Dadurch entfällt die Notwendigkeit, die Erdungskappe zu wechseln, wenn Leiterplatten mit mehreren Musterabständen gemessen werden, was die Effizienz der Messung verbessert.