MicroCraft

  • Sarra
  • TDR/VNA测量系统

可对5G应用中使用的设备或基板进行特性评估。
满足下一代需求的高频特性测量系统。

S2V/S3V/S4V54

S2V/S3V/S4V54

VNA量测仪器
S2V54 (2探头)
S3V54 (3探头)
S4V54 (4探头)
该测量系统可搭载VNA（矢量网络分析仪）。是一款能够自动测量高频特性的系统。除可进行S参数测量外，还可用于5G应用设备及电路板特性评估。可以进行数据在印刷电路板线路中高速传输损耗的测量，和背钻孔缺陷检测等多种应用。其探头可以180°旋转，实现了多探头近距离协同作业，并配备测点可视摄像头，可直观观测探头接触位置，兼容各类VNA测量仪和TDR测量仪。配置4个探头，还可实现电路板正反面同步测量。

通过接触线路的两端来进行S参数等测量。

在每个机械臂上分别安装如Form Factor制的ACP系列探头，就可以接触到线路的两端。

高频探头组

180°旋转机构

高频探头装置配备有旋转机构，可以使探头之间紧密接近，从而可以测试各种焊盘。 并支持例如Form Factor的ACP系列为首的各种高频探头。

机台规格

S2V54
(2探头)		 S3V54
(3探头)		 S4V54
(4探头)
最大测试范围

570 x 460 mm

570 x 460 mm

570 x 460 mm
架板系统

自动夹板

自动夹板

自动夹板
旋转半径

180°

180°

180°
X–Y轴重复精度

±4 µm

±4 µm

±4 µm
θ角重复精度

1°

1°

1°
空压规格 (压力)

0.5 MPa

0.5 MPa

0.5 MPa
空压规格 (容量)

3.5 ℓ/min.

3.5 ℓ/min.

3.5 ℓ/min.
电源
单相AC200–240 V 50/60 Hz

10 A

12 A

15 A
重量

1500 kg

1510 kg

1520 kg
尺寸表 (mm)

系统需求

控制用电脑和显示器 *1
操作环境 21–24℃、30–70%（相对湿度）
* 请勿在有大量结露，灰尘，振动和/或腐蚀性气体的环境中使用
大气露点：−14℃或更低（0.7 MPa，压力露点为15℃或更低）
油雾浓度：1 mg/㎥ (ANR) 以下

*1 请与我们的销售人员联系以获取详细信息。

VNA测量系统可以兼容的测量仪 *2

Keysight Technologies

E5063A (500MHz/1.5GHz/3GHz/4.5GHz/6.5GHz/8.5GHz/14GHz/18GHz)
E5080B (4.5GHz/6.5GHz/9GHz/14GHz/20GHz/26.5GHz/32GHz/44GHz/53GHz)
N5224B (43.5GHz)
N5225B (50GHz)
N5227B (67GHz)
N5244B (43.5GHz)
N5245B (50GHz)
N5247B (67GHz)
P5007A (44GHz)
P5007B (44GHz)
P5027A (44GHz)
P5027B (44GHz)

Rohde & Schwarz

ZNA40 (40GHz)
ZNA43 (43.5GHz)
ZNA50 (50GHz)
ZNA67 (67GHz)
ZNB40 (40GHz)
ZNB43 (43.5GHz)
ZNBT40 (40GHz)
安立

MS46524B (8.5GHz/20GHz/43.5GHz)

*2 请与我们的销售人员联系以获取详细信息。量测仪需另外购买。

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