- Fingertester
MicroCraft's Proben sind in einer vielfältigen Auswahl erhältlich und erfüllen verschiedenste Anforderungen, von geringen Testabdrücken bis hin zu kundenspezifischen Anforderungen.
Probes zum schnellen und hochgenauen Test
Typ10 Probe
Die Typ10-Probe wurde speziell für Hochgeschwindigkeitstests entwickelt. Die Konstruktion wurde bis ins kleinste Detail überarbeitet und nur die leichtesten Materialien verwendet. Durch die Einstellung einer Antriebsgeschwindigkeit, welche das maximale Drehmoment des Motors optimal nutzt, werden extem schnelle Bewegungen ermöglicht.
Digitale PPC (Probe Pressure Control)
MicroCraft's Proben zeichnen sich durch einen bewährten Prüfmechanismus mit stabilen Kontakten aus. Die digitale PPC (Probe Pressure Control) vereinfacht nicht nur den Arbeitsverlauf, sondern auch die Einstellarbeiten. Beim Austausch der Proben wird diese einfach gemäß den Anweisungen am Bildschirm angebracht. Danach kann der Test ohne weitere Anpassungen direkt mit dem vorgegebenen Druck beginnen. Dies ermöglicht eine herausragende Benutzerfreundlichkeit. Alle hier gezeigten G-Modelle verfügen über diese Funktion als Standardausstattung.
Typ9 Probe
Integrierter Encoder
Typ9-Proben sind Standard für das S-Modell(hochpräzise Version).* Der Motor verfügt über einen integrierten Encoder, welcher eine reibungslose Steuerung basierend auf dem Feedback des Encoders ermöglicht und zuverlässiges testen bei niedrigen bis hohen Geschwindigkeiten gewährleistet. Mit dieser einzigartigen Geschwindigkeitssteuerung ist es möglich, die Geschwindigkeit zu erhöhen, während ein niedriger Kontaktdruck beibehalten wird. Die Proben sind ebenfalls mit digitaler PPC ausgestattet.
* Für andere Modelle als S serie als Option erhältlich.
Kontaktabdrücke auf einem Pad von 20 µm
Erhöhte Festigkeit der Probe
Die Probe ist Teil des mechanischen Systems, welches eine genaue Positionierung gewährleistet. Deshalb wurden von MicroCraft das Design aller Bauteile und sämtliche verwendeten Materialien optimiert, um äußere Einflüsse wie Temperaturschwankungen zu minimieren und eine bestmögliche mechanische Festigkeit zu gewährleisten.
Befestigung mit einer Schraube
Dank neuen Designs ist die Probe mit nur einer Schraube befestigt und kann problemlos aufgesteckt und abgezogen werden. Die Probe verfügt über einen Sensor, welcher mechanischen Kontakt registriert, und ist so optimal zum Test von flexiblen und stark verzogenen Leiterplatten, Tiefenfräsungen und unterschiedlichen Höhen auf der Oberfläche geeignet.
Proben-Einheit
Proben-Einheit
Es stehen zwei Arten von Probe Tips zur Verfügung. Zum einen die messerförmige Blade Tip, welche sehr robust ist und es erlaubt in DK Bohrungen zu testen und so ein Kontaktieren schmaler Restringe überflüssig macht. Zum anderen wird die nadelförmige Needle Tip angeboten, welches besonders für feine Strukturen wie BGA's zum Einsatz kommt.
Kelvin Proben-Einheit Optionen
Für hochgenaue Widerstandsmessungen sind Kelvintips erhältlich. Die beiden Nadeln der Kelvinprobe haben einen Abstand von 20 Micron und sind so bestens zum Test von C4 Bumbs auf Flip- Chips geeignet.
Proben-Konfiguration
Probengehäuse: Wird direkt an EMMA angebracht.
Trägereinheit: Ein Standard-Träger, auf welchem eine Probe montiert ist.
Probenspitze: Die Probenspitze kann an dem Träger montiert werden und dieser als Probe verwendet werden.
Probenspitze der sanften Klinge
A. Sanfte Klinge / B. Sanfte Spitzklinge / C. Sanfte Gestufte-Steilklinge
Verwendet für Leiterplatten mit Durchkontaktierungen an Testpunkten. Dadurch können die auf der Leiterplatte entstehenden Testabdrücke im Vergleich zur herkömmlichen Klinge minimiert werden.
Probenspitze der sanften Nadel
A. R10 Sanfte Nadel / B. R20 Sanfte Nadel / C. Flache 30er Stanft-Nadel
Verwendet für Leiterplatten ohne Durchkontaktierungen an Testpunkten. Dadurch können die auf der Leiterplatte entstehenden Testabdrücke im Vergleich zur herkömmlichen Nadel minimiert werden.
Probenspitze des Klingen-Typen
A. Standardklinge / B. Spitzklinge / C. Gestufte-Steilklinge
Verwendet für Leiterplatten mit Durchkontaktierungen an Testpunkten.
Probenspitze des Nadel-Typen
A. R20 Nadel / B. R50 Nadel
Verwendet für Leiterplatten ohne Durchkontaktierungen an Testpunkten. Besonders geeignet für die Prüfung von Fine-Pitch-Boards.
Probenspitze der Kelvin-Klinge
A. Standard Kelvin-Klinge
Verwendet für 4-Leiter-Messungen an Leiterplatten mit Durchkontaktierungen
Probenspitze der Kelvin-Nadel
A. R10 Kelvin-Nadel / B. Flache 20er Kelvin-Nadel
Verwendet für 4-Leiter-Messungen an Leiterplatten mit kleinen Pads.
Vergleich der Spitzenformen
Unterschied zwischen der Klingen-Probe und der sanften Klingen-Probe
Stabile Kontaktierung in Durchkontaktierungen. Bei Überlagerungen von Lötstopplack kann es jedoch während der Prüfung zu einer Berührung der Klinge mit dem Lötstopplack kommen. Variante (B) hat die gleiche Klingenform wie (A), aufgrund des Kopfdesigns verursacht sie dank geringerem Druckes jedoch geringere bis gar keine Testabdrücke im Vergleich zu Variante (A).
Selbst bei Pads mit kleinen Öffnungen und überlappendem Lötstopplack ist die Prüfung möglich, ohne mit dem Lötstopplack in Berührung zu kommen. Jedoch ist bei größeren Durchmessern der Durchkontaktierungen eine andere Probenhöhe erforderlich. Darüber hinaus hat die Klinge (D) die gleiche Klingenform wie (C), erzeugt jedoch aufgrund des Kopfdesigns mit geringerem Druck geringere bis gar keine Testabdrücke.
Selbst bei Pads mit kleinen Öffnungen und überlappendem Lötstopplack ist die Prüfung möglich, ohne mit dem Lötstopplack in Berührung zu kommen. Bei großen Durchkontaktierungen kann die Probe niedriger positioniert werden. Die Klinge (F) hat die gleiche Form wie die Klinge (E), erzeugt jedoch aufgrund der speziellen Spitzenform noch geringere bis gar keine Testabdrücke.
Sanfte Nadel
R10 Sanfte Nadel
Eine Besonderheit ist die äußerst kleine Fläche des Testabdrucks.
R20 Sanfte Nadel
Geringere Testabdrücke im Vergleich zu R10.
Flache 30er Stanft-Nadel
Ideal für Prüfpunkte, bei denen es zu einem abrutschen kommen kann, wie z. B. bei Bumps oder erhöhten Pads.
Nadel-Proben
R20 Nadel
Zu den Hauptmerkmalen zählt der kleine Testabdruck.
R50 Nadel
Geringere Testabdrücke
Kelvin-Klinge
Standard Kelvin-Klinge
Standard Kelvin-Klinge
Kelvin-Nadel-Proben
R10 Kelvin-Nadel
Eine Besonderheit ist die äußerst kleine Fläche des Testabdrucks.
Flache 20er Kelvin-Nadel
Ideal für Prüfpunkte, bei denen es zu einem abrutschen kommen kann, wie z. B. bei Bumps oder erhöhten Pads.