MicroCraft

  • TDR测量装置

独自开发的高频同轴探头。

探头

高频同轴探头 (无法与E1T/E2T6151, E2V/E3V/E4V6151搭配使用)

探针间距 *
p=0.5, 1.0, 1.27, 1.9, 2.54, 3.54, 5.08 (mm)
接地端 (G)—信号端 (S)

单端探头
迈克珂来富独自开发的高频率同轴测试头是单体持有10千兆赫以上优良的频率数特性。另外,GND端子的结构部分,可旋转360度,因此您可以对应高频板的复杂模式。同时,根据GND、信号两端子、弹簧结构、减轻了对基板的接触损伤。另外,装备差动式探头可以测量差动阻抗。

* 探头间距可根据您的使用进行定制

探针间距 *
p=1.25, 2.54 (mm)
接地端 (G)—信号端 (S)

差动式探头
差动式探头可完成差动阻抗量测

* 探头间距可根据您的使用进行定制

超高频探头(E1T/E2T6151)

超高频探头

非常适合在C4Bump高频范围内进行测量特性阻抗。它还具有旋转功能,可以连接超高频探头,例如Form Factor的ACP40系列超高频探头(以前为Cascade Microtech)。

高频探头组 (E2V/E3V/E4V6151)

180°旋转机构

高频探头装置配备有旋转机构,可以使探头之间紧密接近,从而可以测试各种焊盘。 支持高频探头,例如Form Factor的ACP系列(以前为Cascade Microtech)和许多其他探头。

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