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Messsystem

MicroCraft’s revolutionäres Messsystem

EMMA Fingertester mit vier oder acht Probes führen Verbindungs- und Isolationstests gleichzeitig auf beiden Seiten der Leiterplatte durch. Sie sind ausgestattet mit Hochgeschwindigkeits- Servomotoren und einer einfach zu bedienenden Windows Benutzeroberfläche. Die Tester der EMMA-Serie senken die Gesamtkosten für elektrische Tests und verbessern gleichzeitig die Produktivität

HVS (High Voltage Stressing) Test  Optionen

HVS (High Voltage Stressing) Test MicroCraft’s HVS Test ist ein Messverfahren, welches es erlaubt, auch hochohmige Isolationsfehler zu erfassen, welche mittels Phasendifferenzmessung (PDM) nicht erkannt werden würden. Der HVS Test wird durch Anlegen von Hochspannungsimpulsen zwischen Signalleitungen durchgeführt, um hochohmige Defekte zu erfassen. Beim HVS, das dem PDM ähnlich ist, wird jedes Netz einmalig geprüft. Somit erhöht sich die Testgeschwindigkeit im Vergleich zu herkömmlichen Isolationstests durch Widerstandsmessung erheblich. HVS ist als Option für alle EMMA Systeme lieferbar.

Einheit für die Hochspannungs-Messung des Isolationswiderstands Optionen

Während bei einer Standardisolationsmessung die maximale Spannung 250 V beträgt, besteht optional die Möglichkeit, diese Spannung auf 500 V oder 1000 V zu erhöhen.

Hochohmige  Isolationsmesseinheit Optionen

Hochohmige  IsolationsmesseinheitDies ist eine Option, um extrem hochohmige Kurzschlüsse mit niedriger Prüfspannung zu erkennen und so die Strukturen der Leiterplatte nicht unnötig zu belasten.
* Verfügbar für die E4 und F2- Serie

Erkennung von Microshorts Optionen

Strukturen, welche feine Kurzschlüsse verursachen, können beim plötzlichen Anlegen einer Hochspannung beim Isolationstest durchbrennen. Die hierbei entstehenden Rückstände können wiederum hochohmige Isolationsfehler verursachen. Dies wird vermieden, indem eine niedrige Spannung (unter 30 V) angelegt und schrittweise erhöht wird. Zusätzlich können durch Umpolen der Hochspannung Fehler erkannt werden, welche die Charakteristik von Halbleitern und Kondensatoren aufweisen.

Anschluss externer Messgeräte Optionen

In Ergänzung zu MicroCraft´s interner Messelektronik können externe Messgeräte mittels USB und GPIB-Schnittstelle angeschlossen werden. Dies ermöglicht die Durchführung von Widerstandsmessungen bis 100GOhm, Hochspannungsmessungen sowie LCR- und Diodenmessungen.

Liste der derzeit unterstützten externen Messgeräte
Keysight Technologies (ehem. Agilent Technologies)
34410A Digital Multimeter (USB), 3458A Digital Multimeter (GPIB),
B2985A Electro Meter (USB), 34420A Micro-Ohm Meter (GPIB),
4339B High Resistance Meter (GPIB), E4980A LCR Meter (USB),
4285A LCR Meter (GPIB), 4284A LCR Meter (GPIB)
Keithley Instruments Inc.
6487 Picoammeter (GPIB)
Kelvinprobe Optionen

VierdrahtmessungPräzisionswiderstandsmessungen
Eine Vierdrahtmessung mittels Kelvinprobe erlaubt hochgenaue Messungen im niederohmigen Bereich. Die Vierdrahtmessung bietet sich auch zur Messung integrierter Widerstände an.

Min. Auflösung: 0.001mΩ
Fehlerhafte Kontaktierungen der Probes werden zuverlässig erkannt
MessbereichAuflösungNutzbarer BereichStromAnwendung
4mΩ0.001mΩ0.4-3mΩ150mAKelvinprobe
40mΩ0.01mΩ2-30mΩ125mAKelvinprobe
400mΩ0.1mΩ30-300mΩ125mAKelvinprobe
1mΩ0.3-3Ω125mAKelvinprobe
10Ω2.5mΩ0.5-8Ω10mA
100Ω25mΩ5-80Ω10mA
1000Ω250mΩ50-800Ω 2.5mA
10kΩ2.5Ω500-8kΩ 0.25mA
100kΩ25Ω5k-80kΩ 25µAZum Messen von
integrierten Widerständen
0-1MΩ250Ω50k-800kΩ 2.5µAZum Messen von
integrierten Widerständen

Kontaktprüfung bei IsolationstestsKontaktprüfung während des Isolationstests
Dieses Feature ermöglicht es, während des Isolationstests zu prüfen, ob die Probe das Pad kontaktiert. Zusätzlich steht eine Padsuchfunktion zur Verfügung.

Latenttest Optionen

LatenttestDer Latenttest ist ein revolutionäres Qualitätssicherungssystem, das nicht nur vorhandene Fehler erkennt, sondern auch Schwachstellen, welche zu späteren Ausfällen führen können. Somit kann die Zuverlässigkeit der Produkte erhöht werden.

Bei latenten Fehlern erhöht sich mit ansteigendem Strom die Temperatur überproportional, was zu einem erhöhten Spannungsabfall an der Schwachstelle führt. Aus der hieraus resultierenden Wellenverschiebung kann somit ein latenter Fehler abgeleitet werden.

[ Spezifikation ]Measurement Mode
ANALOG LFANALOG HFDIGITAL
Frequenz1kHz1.46MHz + 1.10MHz5—40kHz Variable
Spannung (Max.)15V5V0—30V Variable
Strom (Max.)1.5A500mA0—1.5A Variable